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        視覺振動盤

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        Keyboard Gap AOI 檢測

        Keyboard Gap AOI 檢測

        詳細介紹


        設備特點:

        1、Gap測量與Keycap Hight/low測量合二為一 高效率,節省人工,節省空間,減少維護成本
        2、Gap測量重復精度為0.015mm,Hight/Low測量重復精度為0.02mm
        3、測量速度快以帶數字鍵的鍵盤為例,包含進出料總時間小于18s
        4、操作簡單,線員只要放好鍵盤,按下進料鍵即可自動檢測,輸出結果
        5、兼容性強,目前量試沒有問題,可兼容, US、UK、JP,長、短 ,黑色Frame黑色Keycap、銀色Frame黑色KeyCap,噴砂、不噴砂。
        共3*2*2*2=24種鍵盤。
        6、配方設置簡單,切換配方小于10分鐘。


        軟件界面圖:

        image.png

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        本文網址:http://www.dltour.com.cn/product/554.html

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